Ph.D. (Physics), (1994) B.A. (Physics), (1988) M.S. (Physics), (1991)
Country
Spojené státy americké
Oblast působení
elektronová mikroskopie
materiály
rentgenové záření
spektroskopie
skenovací elektronová mikroskopie
Příslušnost k instituci
National Institute of Standards and Technology (Spojené státy americké) (2004)
Profession
fyzici
vědci
Sex
muž
Language
eng - angličtina
Biography
Fyzik, odborník v oboru elektronové mikroskopie a mikroanalýzy, působil v Aspex Corporation, od roku 2004 v National Institute of Standards and Technology; věnuje se vysokorychlostní automatizované analýze částic.
Source data found
Goldstein, Joseph I. - Ritchie, Nicholas W. M. et al.: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis, c2018 (afiliace) ; BLPC, cit. 2í. 5. 2020 (autoritní forma) ; www(National Institute of Standards and Technology - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje) ; www(Nicholas Ritchie - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje)
Source data not found
LC (Names), cit. 29. 5. 2020
Database
Soubor osobních jmen a jmen rodin (rodů)
References
(1) - Books
person
Number of the records: 1
openseadragon
This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about
how we use cookies.