Search results
- Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy / edited by Rik Brydson. Chichester : Wiley, 2011 . 280 s., [8] s. obr. příl.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 - Biological specimen preparation for transmission electron microscopy / Audrey M. Glauert, Peter R. Lewis. Princeton, N.J. : Princeton University Press, c1998 . xxi, 326 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 - Příprava buněčných vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii [rukopis] / Klaudie Gottwaldová. 2019 . 35 s., 17 s. (67 643 znaků)
- Studium interakce kyseliny glutamové a glutaminu s povrchem Ag nanočástic prostřednictvím metod vibrační spektroskopie [rukopis] / Hana Kubičková. 2012 . 67s.(93 249znaků)
- Studium vlivu teplotního stresu na strukturní organizaci fotosystému II v tylakoidní membráně rostlin pomocí transmisní elektronové mikroskopie [rukopis] / Veronika Gryčová. 2017 . 45
- Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Part 1, Basics / David B. Williams, C. Barry Carter. New York, N.Y. : Springer, c2009 . lxii, 193, I-15 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 - Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Part 2, Diffraction / David B. Williams, C. Barry Carter. New York, N.Y. : Springer, c2009 . lxii, s. 197-368, I-15 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 - Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Part 3, Imaging / David B. Williams, C. Barry Carter. New York, N.Y. : Springer, c2009 . lxii, s. 371-578, I-15 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 - Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Part 4, Spectrometry / David B. Williams, C. Barry Carter. New York, N.Y. : Springer, c2009 . lxii, s. 581-760, I-15 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 - Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics / edited by Alain Claverie. London : Hoboken, N.J. : ISTE ; Wiley, 2013 . xiii, 243 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0