Search results
- Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl. Berlin ; Heidelberg : Springer, [2013] ©2013 . xxiv, 730 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book
- Handbook of ellipsometry / edited by Harland G. Tompkins and Eugene A. Irene. Norwich, NY : William Andrew, Heidelberg : Springer, [2005] ©2005 . xvi, 870 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 book
book
- Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara. Chichester : John Wiley, [2007] ©2007 . xviii, 369 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book