Search results
- Bezpečnostní technologie, systémy a management I. / Luděk Lukáš a kolektiv. Zlín : Radim Bačuvčík - VeRBuM, 2011 . 316 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FTK 1 0 0 0 0 0 book
- Bezpečnostní technologie, systémy a management II. / Luděk Lukáš a kolektiv. Zlín : Radim Bačuvčík - VeRBuM, 2012 . 386 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FTK 1 0 0 0 0 0 book
- Bezpečnostní technologie, systémy a management III. / Luděk Lukáš a kolektiv. Zlín : Radim Bačuvčík - VeRBuM, 2013 . 456 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FTK 1 0 0 0 0 0 book
- Bezpečnostní technologie, systémy a management IV. / Luděk Lukáš a kolektiv. Zlín : Radim Bačuvčík - VeRBuM, 2014 . 390 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FTK 1 0 0 0 0 0 book
- Bezpečnostní technologie, systémy a management V. / Luděk Lukáš a kolektiv. Zlín : Radim Bačuvčík - VeRBuM, 2015 . 368 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FTK 1 0 0 0 0 0 book
- The finite element method and its reliability / Ivo Babuška and Theofanis Strouboulis. Oxford ; New York, N.Y. : Oxford University Press, 2001 . xi, 802 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 2 0 0 0 0 0 
book
- An introduction to the basics of reliability and risk analysis / Enrico Zio. Hackensack, N.J. ; London ; Singapore : World Scientific, c2007 . xii, 222 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book
- Structural dynamics of electronic and photonic systems / edited by Ephraim Suhir, DAvid S. Steinberg, T.X. Yu. Hoboken, N.J. : Wiley, [2011] ©2011 . 1 online zdroj (x, 598 stran)
http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=364261book
- Verifying cyber-physical systems : a path to safe autonomy / Sayan Mitra. Cambridge, MA ; London : The MIT Press, [2021] ©2021 . xvi, 296 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci Z 0 0 0 1 0 0 book