Search results

  1. Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka.    Berlin ; Heidelberg ; New York :  Springer Verlag,  c2004 . xx, 476 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    book

    book

  2. Applied scanning probe methods. III, Characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.).    Heidelberg ; Berlin ; New York :  Springer Verlag,  c2006 . xliii, 378 s
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    book

    book

  3. Applied scanning probe methods. II, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.).    Heidelberg ; Berlin ; New York :  Springer Verlag,  c2006 . xliii, 420 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    book

    book

  4. Applied scanning probe methods. IV, Industrial applications / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.).    Heidelberg ; Berlin ; New York :  Springer Verlag,  c2006 . xliv, 284 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    Applied scanning probe methods

    book

  5. Applied scanning probe methods. IX, Characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori.    Berlin ; Heidelberg :  Springer,  2008c . lix, 387 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    Applied scanning probe methods

    book

  6. Applied scanning probe methods. VII, Biomimetics and industrial applications / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.).    Heidelberg ; Berlin ; New York :  Springer Verlag,  c2007 . xlv, 380 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    book

    book

  7. Applied scanning probe methods. VIII, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori.    Berlin ; Heidelberg :  Springer,  c2008 . lix, 465 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    Applied scanning probe methods

    book

  8. Applied scanning probe methods. V, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (Eds.).    Heidelberg ; Berlin ; New York :  Springer Verlag,  c2006 . xlv, 344 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    book

    book

  9. Applied scanning probe methods. X, Biomimetics and industrial applications / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori.    Berlin ; Heidelberg :  Springer,  c2008 . lix, 427 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    Applied scanning probe methods

    book

  10. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp.    Berlin :  Springer,  c2006 . xii, 292 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    LF000100
    Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching

    book