Search results
- Micro and nano mechanical testing of materials and devices / editors Fuqian Yang, James C.M. Li. New York, N.Y. : Springer, c2008 . xiii, 387 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book