Search results
- Amplitude modulation atomic force microscopy / Ricardo García. Weinheim : Wiley-VCH Verlag, c2010 . xiv, 179 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book
- Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp. Berlin : Springer, c2006 . xii, 292 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci LF 0 0 0 1 0 0 book
- Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic roces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors. Berlin ; Heidelberg : Springer, [2012] ©2012 . xiv, 331 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book
- Noncontact atomic force microscopy. Volume 3 / Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger, editors. Cham : Springer, [2015] ©2015 . xxii, 527 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 book
- The world of nano-biomechanics : mechanical imaging and measurement by atomic force microscopy / by Atsushi Ikai ; with contributions of R. Afrin ... [et al.]. Amsterdam : Elsevier, 2008 . xvi, 283 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci LF 0 0 0 1 0 0 book