Search results

Records found: 1  
Your query: Author Sysno = "^upol_us_auth m0187775^"
  1. Multiple-beam interferometry of surfaces and films / by S. Tolansky.    Shanghai :  Huxi Shudian,  1948 . 187 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    LF000100
    book

    book



  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.