Search results
- Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp. Berlin : Springer, c2006 . xii, 292 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci LF 0 0 0 1 0 0 book