Search results
- Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl. Berlin ; Heidelberg : Springer, [2013] ©2013 . xxiv, 730 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0
Lok/dislok | Absenčně | Vypůjčené | Rezervované | Prezenčně | Nedostupné | Pouze k rezervaci |
---|---|---|---|---|---|---|
PRF | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |