Search results

Records found: 2  
Your query: UDC+Conspectus = "^531.715:620.1^"
  1. Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi.    New York :  Marcel Dekker,  c1993 . xiii, 551 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    Speckle metrology

    book

  2. Speckle metrology 2003 : proceedings / editors Kay Gastinger, Ole Johan Lokberg, Svein Winther.    Bellingham :  SPIE-The International Society for Optical Engineering,  c2003 . ix, 390 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    book

    book



  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.