Applied scanning probe methods. II, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.).  Heidelberg ; Berlin ; New York : Springer Verlag, c2006. xliii, 420 s.

Lok/dislok	Absenčně	Vypůjčené	Rezervované	Prezenčně	Nedostupné	Pouze k rezervaci
PRF	0	0	0	1	0	0