1. Kelvin probe force microscopy
Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic roces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors. Berlin ; Heidelberg : Springer, [2012] ©2012. xiv, 331 stran Lok/dislok | Absenčně | Vypůjčené | Rezervované | Prezenčně | Nedostupné | Pouze k rezervaci |
---|---|---|---|---|---|---|
PRF | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |