Number of the records: 1
Applied scanning probe methods
- Applied scanning probe methods. III, Characterization. Heidelberg ; Berlin ; New York : Springer Verlag, c2006. Nanoscience and technology. ISBN 978-35-4026-909-0.
Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel.
Number of the records: 1