Number of the records: 1
Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching
- KAUPP, G. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces. Berlin : Springer, c2006. Nanoscience and technology. ISBN 3-540-28405-2.
Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel.
Number of the records: 1