Kelvin
Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic roces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors. -- Berlin ; Heidelberg : Springer, [2012]. -- ©2012. -- xiv, 331 stran : ilustrace, grafy, schémata. -- (Springer series in surface sciences ISSN 0931-5195 ; 48). -- Pod názvem: With 189 figures. -- ISBN : 978-3-642-22565-9 (vázáno).
Sadewasser, Sascha. Glatzel, Thilo, 1972-
mikroskopie atomárních sil. povrchy. nauka o materiálu. sborníky
[53.086:004.352]:539.186. 620.2. 538.971. 544.7. (082)