Number of the records: 1
Glatzel, Thilo, 1972-
SYS 0262939 LBL -----cz--a22-----n--4500 003 CZ-OlKUP 005 20211228220327.6 008 180502|n|aznnnaabn-----------n-a|a------ 040 $a OLD012 $b cze $d ABA001 $e rda 046 $f 1972 100 1-
$a Glatzel, Thilo, $d 1972- 370 $c Německo $c Švýcarsko 372 $a mikroskopie atomárních sil 374 $a fyzici $a vysokoškolští učitelé 375 $a muž 377 $a eng $a ger 400 1-
$a Glatzel, Th., $d 1972- $0 o 670 $a Sadewasser, Sascha - Glatzel, Thilo (eds.): Kelvin probe force microscopy: measuring and compensating electrostatic forces, 2012 670 $a DNB, cit. 2. 5. 2018 $b autoritní forma, datum narození, odkaz viz, biografické údaje 670 $a www(Basel University - Department of Physics - Nanolino - Meyer Group), cit. 2. 5. 2018 $b biografické údaje 670 $a DNB, cit. 21. 12. 2021 $b autoritní forma, datum narození, odkaz viz, biografické údaje, pole 377 678 0-
$a Německý fyzik a vysokoškolský pedagog, zaměřený na mikroskopii atomárních sil, zejména na Kelvinovy sondy silového mikroskopu.
Number of the records: 1