Number of the records: 1
Ellipsometry at the nanoscale
- Ellipsometry at the nanoscale. Berlin ; Heidelberg : Springer, [2013]. ©2013. ISBN 978-3-642-33955-4.
Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel.
Number of the records: 1