Ellipsometry
Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl. -- Berlin ; Heidelberg : Springer, [2013]. -- ©2013. -- xxiv, 730 stran : ilustrace, grafy, schémata. -- ISBN : 978-3-642-33955-4 (vázáno).
Losurdo, Maria. Hingerl, Kurt
elipsometrie. nanomateriály. nanotechnologie. nanověda. fyzikální měření. sborníky
(082). 620.2-022.513.2. 621.3.049.76. 5/6-022.532. 62-022.532. 531.715. 53.08