Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (UF)
Focused Ion Beam SEM (UF)
SBF-SEM (UF)
Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (UF)
Serial Block-Face SEM (UF)
Serial Sectioning TEM (UF)
Serial Sectioning Transmission Electron Microscopy (UF)
ssTEM (UF)
vEM Volume Electron Microscopy (UF)
Volume EM (UF)
See also
elektronová mikroskopie
počítačové zpracování obrazu
Linking entry
Volume Electron Microscopy
Conspect
E01. - 370. - 350. - 515. - 402. - 812
E05. - 595. - 402. - 812
L01. - 224. - 308. - 705
Note
Techniky elektronové mikroskopie určené k rekonstrukci 3D obrazů o mikrometrových rozměrech a s nanometrovým rozlišením. Objemová elektronová mikroskopie používá různé techniky k popisu, segmentaci a rekonstrukci 3D obrazů z vrstvených sekvenčních 2D obrazů přírůstkových ploch.
Database
MESH
References
(2) - MESH
subject heading
openseadragon
Number of the records: 1
This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about
how we use cookies.