Number of the records: 1
Spectroscopic ellipsometry
- Fujiwara, Hiroyuki
Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara. -- Chichester : John Wiley, [2007]. -- ©2007. -- xviii, 369 stran : ilustrace. -- ISBN : 978-0-470-01608-4 (vázáno).
spektrální analýza. optické vlastnosti materiálů. polarimetry. elipsometrie. monografie
543.42. 538.958. 681.785.3. 531.715. (048.8)
Number of the records: 1