Number of the records: 1  

Optická elipsometrie

  1. Title statementOptická elipsometrie [rukopis] / Tomáš Horák
    Additional Variant TitlesOptická elipsometrie
    Personal name Horák, Tomáš (dissertant)
    Translated titleOptical Ellipsometry
    Issue data2016
    Phys.des.49 (55 203 znaků) + 1 CD s bakalářskou prací
    NoteVed. práce Jan Podloucký
    Oponent Josef Kapitán
    Another responsib. Podloucký, Jan (thesis advisor)
    Kapitán, Josef (opponent)
    Another responsib. Univerzita Palackého. Katedra optiky (degree grantor)
    Keywords Elipsometrie * elipsometr LEOI-44 * analyzátor * polarizátor * tenká vrstva * index lomu * Ellipsometry * LEOI-44 Ellipsometer * Analyzer * Polarizer * Thin film * refractive index
    Form, Genre bakalářské práce bachelor's theses
    UDC (043)378.22
    CountryČesko
    Languagečeština
    Document kindPUBLIKAČNÍ ČINNOST
    TitleBc.
    Degree programBakalářský
    Degree programFyzika
    Degreee disciplineDigitální a přístrojová optika
    book

    book

    Kvalifikační práceDownloadedSizedatum zpřístupnění
    00195320-840034144.pdf394.1 MB17.05.2016
    PosudekTyp posudku
    00195320-ved-895209418.pdfPosudek vedoucího
    00195320-opon-356326250.pdfPosudek oponenta
    Průběh obhajobydatum zadánídatum odevzdánídatum obhajobypřidělená hodnocenítyp hodnocení
    00195320-prubeh-924337498.pdf18.12.201417.05.201615.06.20162Hodnocení známkou

    Tato práce se věnuje určení tloušťky tenké vrstvy metodou nulové elipsometrie na elipsometru LEOI-44. Za pomocí dvou sad úhlů nastavení polarizátoru a analyzátoru jsme schopni touto metodou zjistit výslednou tloušťku tenké vrstvy na substrátu.Calculation of thin film thickness on the base of null ellipsometry method with LEOI-44 Ellipsometer is carried out in this thesis. Two sets of angular setting of polarizer and analyzer allow to find refractive index and thickness values in the model of single homogenous layer.

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.