Number of the records: 1
Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti
Title statement Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti [rukopis] / Matúš Ágh Additional Variant Titles Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti Personal name Ágh, Matúš (dissertant) Translated title Measurement of single thin layer parameters from reflectance spectrum Issue data 2015 Phys.des. 47 strán (57,704 znakov) : il., grafy, schémata + CD ROM Note Ved. práce Jan Podloucký Oponent Petr Pavlačík Another responsib. Podloucký, Jan (thesis advisor) Pavlačík, Petr (opponent) Another responsib. Univerzita Palackého. Katedra optiky (degree grantor) Keywords reflektancia * tenká vrstva * film * index lomu * optické parametre * reflectivity * thin film * refractive index * optical parameters Form, Genre bakalářské práce bachelor's theses UDC (043)378.22 Country Česko Language slovenština Document kind PUBLIKAČNÍ ČINNOST Title Bc. Degree program Bakalářský Degree program Fyzika Degreee discipline Digitální a přístrojová optika book
Kvalifikační práce Downloaded Size datum zpřístupnění 00194129-621444406.pdf 208 1.1 MB 07.05.2015 Posudek Typ posudku 00194129-ved-837723183.pdf Posudek vedoucího 00194129-opon-774727716.pdf Posudek oponenta Průběh obhajoby datum zadání datum odevzdání datum obhajoby přidělená hodnocení typ hodnocení 00194129-prubeh-481836742.pdf 31.07.2013 07.05.2015 17.06.2015 1 Hodnocení známkou
Táto práca sa venuje meraniu odrazivosti rovinných plôch pomocou spektrálneho fotometru a ďalej je popísané využitie týchto meraní pre výpočet parametrov jednoduchej neabsorbujúcej tenkej vrstvy. Výpočet parametrov bol riešený iteračnou metódou v dvoch krokoch. Algoritmus riešenia bol naprogramovaný v prostredí Matlabu. Programovací kód, v ktorom boli výpočty prevedené, je v záverečnej kapitole uvedený a podrobne popísaný.This thesis deals with measuring reflectance of planar surfaces using spectral photometer and with calculation of optical parameters of single non-absorbing thin layer on the basis of reflectance measurements. Two-step iteration method was used to calculate thickness and refractive index. Computational algorithm was programmed in Matlab environment. Source code used for final computing is shown and thoroughly described in the last chapter.
Number of the records: 1