Number of the records: 1  

Applied logistic regression

  1. Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow.    New York, N.Y. ; Chichester :  John Wiley & Sons,  c2000 . xii, 375 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    FTK100000
    PRF100100
    View book information on page www.obalkyknih.cz

    book


Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.