LANZA, Mario. Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials. Weinheim : Wiley-VCH, 2017 [Plný text pro studenty a zaměstnance UPOL]. Available on Internet: <https://doi.org/10.1002/9783527699773> ISBN 9783527699773.

Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel.