Number of the records: 1
Optická elipsometrie
Title statement Optická elipsometrie [rukopis] / Tomáš Horák Additional Variant Titles Optická elipsometrie Personal name Horák, Tomáš (dissertant) Translated title Optical Ellipsometry Issue data 2016 Phys.des. 49 (55 203 znaků) + 1 CD s bakalářskou prací Note Ved. práce Jan Podloucký Oponent Josef Kapitán Another responsib. Podloucký, Jan (thesis advisor) Kapitán, Josef (opponent) Another responsib. Univerzita Palackého. Katedra optiky (degree grantor) Keywords Elipsometrie * elipsometr LEOI-44 * analyzátor * polarizátor * tenká vrstva * index lomu * Ellipsometry * LEOI-44 Ellipsometer * Analyzer * Polarizer * Thin film * refractive index Form, Genre bakalářské práce bachelor's theses UDC (043)378.22 Country Česko Language čeština Document kind PUBLIKAČNÍ ČINNOST Title Bc. Degree program Bakalářský Degree program Fyzika Degreee discipline Digitální a přístrojová optika 
book
Kvalifikační práce Downloaded Size datum zpřístupnění 00195320-840034144.pdf 39 4.1 MB 17.05.2016 Posudek Typ posudku 00195320-ved-895209418.pdf Posudek vedoucího 00195320-opon-356326250.pdf Posudek oponenta Průběh obhajoby datum zadání datum odevzdání datum obhajoby přidělená hodnocení typ hodnocení 00195320-prubeh-924337498.pdf 18.12.2014 17.05.2016 15.06.2016 2 Hodnocení známkou
Tato práce se věnuje určení tloušťky tenké vrstvy metodou nulové elipsometrie na elipsometru LEOI-44. Za pomocí dvou sad úhlů nastavení polarizátoru a analyzátoru jsme schopni touto metodou zjistit výslednou tloušťku tenké vrstvy na substrátu.Calculation of thin film thickness on the base of null ellipsometry method with LEOI-44 Ellipsometer is carried out in this thesis. Two sets of angular setting of polarizer and analyzer allow to find refractive index and thickness values in the model of single homogenous layer.
Number of the records: 1