Number of the records: 1  

Applied scanning probe methods

  1. Title statementApplied scanning probe methods. VIII, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
    Issue dataBerlin ; Heidelberg : Springer, c2008
    Phys.des.lix, 465 s. : il.
    ISBN9783540740797
    Edition Nanoscience and technology
    Internal Bibliographies/Indexes NoteObsahuje bibliografické odkazy a rejstřík
    Another responsib. Bhushan, Bharat, 1949- (editor)
    Fuchs, Harald, 1951- (editor)
    Tomitori, M. (Masahiko) (editor)
    Subj. Headings skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanostructure materials * nanotechnologie nanotechnology * průmysl industries
    Conspect620.1/.2 - Nauka o materiálu
    UDC 53.086:004.352 , 62-022.532 , 338.45:620.2-022.532 , 620.2-022.532
    CountryNěmecko
    Languageangličtina
    Document kindBooks
    Call numberBarcodeLocationSublocationInfo
    F/897-8 (PřF)3134023346PřFPřF, KEF - Mgr. VůjtekIn-Library Use Only