Number of the records: 1  

Applied scanning probe methods

  1. Title statementApplied scanning probe methods. IV, Industrial applications / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.)
    Issue dataHeidelberg ; Berlin ; New York : Springer Verlag, c2006
    Phys.des.xliv, 284 s. : il.
    ISBN3540269126
    Edition Nanoscience and technology
    NoteLit. v textu. Rejstř.
    Another responsib. Bhushan, Bharat, 1949- (editor)
    Fuchs, H. (Harald) (editor)
    Subj. Headings aplikace * skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanostructure materials * nanotechnologie nanotechnology * průmysl industries
    Conspect620.1/.2 - Nauka o materiálu
    UDC 53.086:004.352 , 62-022.532 , 620.1 , 620.2-022.532 , 621.3.049.76
    CountryNěmecko ; Spojené státy americké
    Languageangličtina
    Document kindBooks
    Call numberBarcodeLocationSublocationInfo
    F/897-4 (PřF)3134022824PřFPřF, KEF - Mgr. VůjtekIn-Library Use Only