Number of the records: 1
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Title statement Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Personal name Goldstein, Joseph, 1939- (author) Edition statement Fourth edition Publication New York : Springer, [2018] Copyright notice date ©2018 Phys.des. xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné) ISBN 978-1-4939-6674-5 (vázáno) Note extras online Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Another responsib. Newbury, Dale E. (author) Michael, Joseph R. (author) Ritchie, Nicholas W. M. (author) Scott, John Henry J. (author) Joy, David C., 1943- (author) Subj. Headings mikroskopie microscopy * elektronová mikroskopie electron microscopy * mikroanalýza microanalysis * elektrony electrons Form, Genre kolektivní monografie collective monographs * učebnice textbooks Conspect 537 - Elektřina 37.016 - Učební osnovy. Vyučovací předměty. Učebnice UDC 53.086 , 57.086.3 , (048.8:082) , (075) , 681.723 , 537.533.35 , 543.063 , 539.124 , (048.8) Country Spojené státy americké Language angličtina Document kind Books 
book
Call number Barcode Location Sublocation Info SNF392 (Sinofon) 3133503479 FF FF, Sinofon Date due 14 days
Number of the records: 1