Number of the records: 1
Měření nevodivých a nestandardních vzorků pro SEM
Title statement Měření nevodivých a nestandardních vzorků pro SEM [rukopis] / Vítězslav Heger Additional Variant Titles Měření nevodivých a nestandardních vzorků pro SEM Personal name Heger, Vítězslav, (dissertant) Translated title Measurement of nonconductive and nonstandard samples using SEM Issue data 2019 Phys.des. 45 s. Note Ved. práce Roman Kubínek Oponent Milan Vůjtek Another responsib. Kubínek, Roman, 1957- (thesis advisor) Vůjtek, Milan (opponent) Another responsib. Univerzita Palackého. Katedra experimentální fyziky (degree grantor) Keywords skenovací elektronový mikroskop * nevodivé vzorky * nestandardní vzorky * scaning electron microscopy * nonconductive samples * nonstandard samples Form, Genre bakalářské práce bachelor's theses UDC (043)378.22 Country Česko Language čeština Document kind PUBLIKAČNÍ ČINNOST Title Bc. Degree program Bakalářský Degree program Fyzika Degreee discipline Nanotechnologie book
Kvalifikační práce Downloaded Size datum zpřístupnění 00232820-145371044.pdf 31 45.6 MB 20.05.2019 Posudek Typ posudku 00232820-ved-889441853.pdf Posudek vedoucího 00232820-opon-109775896.pdf Posudek oponenta
Tato práce se zabývá skenovací elektronovou mikroskopií nevodivých a nestandardních vzorků. Popisuje základy elektronové mikroskopie a interakci elektronového svazku se vzorkem. Měření bylo prováděno na přístroji Tescan Vega 3 LMU. V experimentální části jsou na příkladech popsány závislosti parametrů mikroskopu a v příloze práce je umístěno několik snímků z měření.This bachelor thesis deals with scanning electron microscopy of non-conductive and non-standard samples. It describes fundamentals of electron microscopy and interaction of electron beam with sample. The measurement was performed on a Tescan Vega 3 LMU. The experimental part describes on the examples the dependence of the microscope parameters and the most successful pictures from the measurements are placed in the attachment.
Number of the records: 1