Number of the records: 1
Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
Title statement Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent [rukopis] / Šimon Bräuer Additional Variant Titles Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent Personal name Bräuer, Šimon (dissertant) Translated title Characterization of selected polarization components by Mueller matrix ellipsometry Issue data 2017 Phys.des. 36 s. Note Ved. práce Josef Kapitán Oponent Jaromír Běhal Another responsib. Kapitán, Josef (thesis advisor) Běhal, Jaromír (opponent) Another responsib. Univerzita Palackého. Katedra optiky (degree grantor) Keywords Polarizace * Stokesův vektor * Muellerova matice * Stokesův polarimetr * Muellerův elipsometr * Polarization * Stokes vector * Mueller matrix * Stokes polarimeter * Mueller matrix ellipsometry Form, Genre bakalářské práce bachelor's theses UDC (043)378.22 Country Česko Language čeština Document kind PUBLIKAČNÍ ČINNOST Title Bc. Degree program Bakalářský Degree program Fyzika Degreee discipline Optika a optoelektronika 
book
Kvalifikační práce Downloaded Size datum zpřístupnění 00220797-884537329.pdf 42 37.8 MB 18.05.2017 Posudek Typ posudku 00220797-ved-623054423.pdf Posudek vedoucího 00220797-opon-410197295.pdf Posudek oponenta Průběh obhajoby datum zadání datum odevzdání datum obhajoby přidělená hodnocení typ hodnocení 00220797-prubeh-791297332.pdf 06.05.2016 18.05.2017 16.06.2017 1 Hodnocení známkou
Hlavním cílem této bakalářské práce je seznámit se s problematikou analýzy polarizačního stavu záření a charakterizací polarizačních vlastností optických komponent pomocí Muellerova elipsometru. Dále byla provedena analýza Stokesova polarimetru a Muellerova elipsometru z hlediska analýzy chyb měření a volby optimálních parametrů sestavy.The main aim of this Bachelor thesis is to analyze the polarization state of the light and characterization of polarization properties of optical components using Mueller's ellipsometer. We also performed analysis of Stokes polarimeter and Mueller's ellipsometer in terms of analysis of measurement errors and selection of optimal parameters of the assembly.
Number of the records: 1