Bakalářská práce představuje interferometrii v bílém světle jako měřicí metodu, která může být použita k měření výškového profilu předmětů. Zabývá se metodou podvzorkování, konkrétně vzorkováním s velkým vzorkovacím krokem porušující vzorkovací teorém. To umožňuje snížení množství dat a urychlení vyhodnocení. Na závěr je diskutována použitelnost této metody.Bachelor work introduces whiteline interferometry as measuring method, that can be used for measurement of the vertical profile of objects. It deals with undersampling method, especially with sampling with high sampling step violating sampling theorem. That allows reducing amount of data and faster evaluation. In conclusion it is discussed applicability of this method.