Optická metrologie spoléhá na řadu metod využívajících interference vln. Jednou z nich je i ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry), jejíž základy budou nastíněny v rámci této práce. Nicméně není jediná, na jejímž výstupu je možné nalézt proužkové struktury. V případě metody ESPI jsou navíc tyto struktury (korelogramy) značně zašuměné vlivem koherenční zrnitosti. Korelogramy mohou být v praxi využívány například k výpočtům posuvu, rotace nebo deformace předmětu. V předložené práci budou představeny dva druhy nástrojů pro analýzu korelogramů - skeletonizace a waveletová transformace (WT). Aplikace WT bude prováděna ve dvou úrovních - odstranění šumu pomocí WT a přímá detekce fáze užitím WT. Navíc bude studována možnost prahování korelogramu před aplikací WT pro přímou detekci fáze a testována odolnost této metody proti šumů bílému a šumu způsobenému reálným jevem koherenční zrnitosti.Optical metrology relies on numerous methods based on wave interference. One of them is also ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry) that is described in this thesis. Nevertheless ESPI is not the only method producing fringe pattern structures. By analysis of these structures (correlograms) the object's translations, rotations and deformations can be calculated. Thesis presents two approaches for fringe pattern phase analysis. Namely thinning or skeletonizing and wavelet transform (WT). WT will be used in a two stage process - WT denoising and direct phase detection with use of WT. There will be also proposed thresholding of the correlogram denoised by the WT before application of the WT for direct phase calculation. In the end resistance of the algorithm against white noise and the noise produced by real speckle pattern will be studied.