Number of the records: 1  

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

  1. Title statementScanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]
    Edition statement3rd ed.
    Issue dataNew York, N.Y. : Springer, c2003
    Phys.des.xix, 690 s. : il.
    ISBN978-0-306-47292-3 (dotisk : váz.)
    Note3134037243, 3133503480 - dotisk 2007
    Internal Bibliographies/Indexes NoteObsahuje bibliografické odkazy a rejstřík
    Another responsib. Goldstein, Joseph, 1939- (author)
    Subj. Headings skenovací elektronová mikroskopie scanning electron microscopy * rentgenová spektrální mikroanalýza X-ray spectral microanalysis
    Form, Genre kolektivní monografie collective monographs * učebnice textbooks
    Conspect537 - Elektřina
    37.016 - Učební osnovy. Vyučovací předměty. Učebnice
    UDC 537.533.35 , 543.427.34 , (075) , (048.8:082)
    CountrySpojené státy americké
    Languageangličtina
    Document kindBooks
    View book information on page www.obalkyknih.cz

    book

    Call numberBarcodeLocationSublocationInfo
    SNF391 (Sinofon)3133503480FFFF, SinofonDate due 14 days
    F/1013 (PřF)3134037243PřFPřF, KnihovnaDate due 30 days
    Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.