Number of the records: 1
Fundamental principles of engineering nanometrology
Title statement Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach Personal name Leach, R. K. (author) Edition statement 1st ed. Issue data Oxford : William Andrew, 2010 Phys.des. xxvi, 321 s. : il. ISBN 978-0-08-096454-6 (váz.) Edition Micro & Nano Technologies Series Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Subj. Headings nanotechnologie nanotechnology * mikrotechnologie microtechnology * metrologie metrology Form, Genre monografie monographs Conspect 62 - Technika všeobecně UDC 62-022.532 , 62-022.53 , 006.91 , (048.8) Country Velká Británie Language angličtina Document kind Books 
book
Call number Barcode Location Sublocation Info F/583 (PřF) 3134029374 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek In-Library Use Only
Number of the records: 1