Number of the records: 1  

Ritchie, Nicholas W. M

  1. Personal nameRitchie, Nicholas W. M.
    Jiná podoba jménaRitchie, Nicholas
    TitlePh.D. (Physics), (1994)
    B.A. (Physics), (1988)
    M.S. (Physics), (1991)
    CountrySpojené státy americké
    Oblast působeníelektronová mikroskopie
    materiály
    rentgenové záření
    spektroskopie
    skenovací elektronová mikroskopie
    Příslušnost k instituciNational Institute of Standards and Technology (Spojené státy americké) (2004)
    Professionfyzici
    vědci
    Sexmuž
    Languageeng - angličtina
    BiographyFyzik, odborník v oboru elektronové mikroskopie a mikroanalýzy, působil v Aspex Corporation, od roku 2004 v National Institute of Standards and Technology; věnuje se vysokorychlostní automatizované analýze částic.
    Source data foundGoldstein, Joseph I. - Ritchie, Nicholas W. M. et al.: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis, c2018 (afiliace) ; BLPC, cit. 2í. 5. 2020 (autoritní forma) ; www(National Institute of Standards and Technology - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje) ; www(Nicholas Ritchie - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje)
    Source data not foundLC (Names), cit. 29. 5. 2020
    DatabaseSoubor osobních jmen a jmen rodin (rodů)
    References (1) - Books
    person

    person

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.

Accept allSettingsReject all