Basket

  Untick selected:   0
  1. Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach.    Oxford :  William Andrew,  2010 . xxvi, 321 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
    Fundamental principles of engineering nanometrology

    book


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.