Výsledky vyhledávání
- Diffraction physics / by John M. Cowley. Amsterdam : North-Holland publishing company, 1981 . xiv, 430 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 - Digital diffractive optics : an introduction to planar diffractive optics and related technology / B. Kress and P. Meyrueis. Chichester : John Wiley and Sons, c2000 . xxiv, 372 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 - Field guide to diffractive optics / Yakov G. Soskind. Bellingham, Wash. : SPIE Press, c2011 . xiv, 118 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 - Foundations of molecular structure determination / Simon Duckett, Bruce Gilbert, Martin Cockett. New York : Oxford University Press, [2015] ©2015 . xi, 162 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 - Characterisation methods in inorganic chemistry / Mark T. Weller, Nigel A. Young. Oxford : Oxford University Press, [2017] ©2017 . xvi, 320 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 3 0 0 - Interferogram analysis : digital fringe pattern measurement techniques / edited by David W. Robinson and Graeme T. Reid. Bristol ; Philadelphia, Pa. : Institute of Physics Publishing, c1993 . xvii, 302 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 - Metody analýzy povrchů : elektronová mikroskopie a difrakce / editoři Ludmila Eckertová, Luděk Frank ... [et al.]. Praha : Academia, 1996 . 379 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 - Optics f2f : from Fourier to Fresnel / Charles S. Adams and Ifan G. Hughes. Oxford : Oxford University Press, 2019 . xiii, 273 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci Z 0 0 0 1 0 0 - A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis / edited by Victor E. Buhrke, Ron Jenkins, Deane K. Smith. New York, N.Y. : Wiley-VCH, c1998 . xxiv, 333 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0