Výsledky vyhledávání
- Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations / edited by Elisabeth Mansfield, Debra L. Kaiser, Daisuke Fujita, and Marcel Van de Voorde.. Weinheim, Germany : Wiley-VCH, 2017. . 1 online resource.
Plný text pro studenty a zaměstnance UPOL