Výsledky vyhledávání
- Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow. New York, N.Y. ; Chichester : John Wiley & Sons, c2000 . xii, 375 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FTK 1 0 0 0 0 0 PRF 1 0 0 1 0 0 kniha