Výsledky vyhledávání

Nalezeno záznamů: 42  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^upol_us_auth z0010603 amg^"
  1. Advances in speckle metrology and related techniques / edited by Guillermo H. Kaufmann.    Weinheim :  Wiley-VCH,  2011 . xviii, 309 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
  2. Atmosphere-ocean interaction / Eric B. Kraus and Joost A. Businger.    New York :  Oxford University Press,  1994 . xxii, 362 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF100000
  3. Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach.    Oxford :  William Andrew,  2010 . xxvi, 321 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
  4. Fundamentals of dimensional metrology / Connie Dotson.    [Clifton Park, N.Y.] :  Thomson Delmar Learning,  c2006 . xi, 638 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
  5. Handbook of optical dimensional metrology / edited by Kevin Harding.    Boca Raton, Fla. ; London :  CRC Press, Taylor & Francis Group,  c2013 . xiii, 492 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
  6. Handbook of optical metrology : principles and applications / edited by Toru Yoshizawa.    Boca Raton, Fla. :  CRC Press,  2009 . xiii, 730 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
  7. Handbook of optical systems. Volume 5, Metrology of optical components and systems / edited by Herbert Gross ; Bernd Dörband, Henriette Müller, and Herbert Gross.    Weinheim : Wiley-VCH Verlag, [2012]  ©2012 . xxiii, 979 stran
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000200
  8. Chemometrie a chemická metrologie / K. Eckschlager ... [et al.].    Brno :  Rektorát Univerzity J.E. Purkyně,  1986 . 226 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF300000
    Z000100
  9. Introduction to optical metrology / Rajpal S. Sirohi.    Boca Raton : CRC Press, [2016]  ©2016 . xxvi, 423 stran
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    Z000100
  10. Jakost v analytické laboratoři 2000 : odpovědi manažerům jakosti / editor Miloslav Suchánek.    Praha :  Eurachem-ČR,  2000 . 105 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.