Výsledky vyhledávání
- Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited by Joseph I. Goldstein, Harvey Yakowitz. New York : Plenum, 1977 . xviii, 582 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci Z 1 0 0 0 0 0 
kniha
- Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy. New York : Springer, [2018] ©2018 . xxiii, 550 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FF 1 0 0 0 0 0 kniha
- Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]. New York, N.Y. : Springer, c2003 . xix, 690 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FF 1 0 0 0 0 0 PRF 1 0 0 0 0 0 kniha