Výsledky vyhledávání
- Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer. New York : Springer, c2006 . xiv, 281 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 kniha