Výsledky vyhledávání
- Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]. New York, N.Y. : Springer, c2003 . xix, 690 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci FF 1 0 0 0 0 0 PRF 1 0 0 0 0 0 kniha