Výsledky vyhledávání
- Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl. Berlin ; Heidelberg : Springer, [2013] ©2013 . xxiv, 730 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 kniha
- Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara. Chichester : John Wiley, [2007] ©2007 . xviii, 369 stran
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 kniha