Výsledky vyhledávání
- Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan. Chichester : John Wiley and Sons, c2008 . xiv, 536 s., [1] l. obr. příl.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 1 0 0 0 0 0 kniha