Výsledky vyhledávání
- Advanced Transmission Electron Microscopy [electronic resource] : Imaging and Diffraction in Nanoscience / by Jian Min Zuo, John C.H. Spence.. Springer eBooks. New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2017. . XXVI, 729 p. 310 illus., 218 illus. in color.
Plný text pro studenty a zaměstnance UPOL
kniha
- Science of microscopy. Volume I / edited by Peter W. Hawkes, John C.H. Spence. New York, N.Y. : Springer Science+Business Media, c2007 . xviii, 747 s., 26 s. rejstř.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 kniha
- Science of microscopy. Volume II / edited by Peter W. Hawkes, John C.H. Spence. New York, N.Y. : Springer Science+Business Media, c2007 . xviii, s. 751-1265, 26 s. rejstř.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRFH 0 0 0 1 0 0 kniha