Výsledky vyhledávání
- Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics / edited by Alain Claverie. London : Hoboken, N.J. : ISTE ; Wiley, 2013 . xiii, 243 s.
Lok/dislok Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci PRF 0 0 0 1 0 0 
kniha