Výsledky vyhledávání

Nalezeno záznamů: 2  
Váš dotaz: MDT+Konspekt = "^531.715:620.1^"
  1. Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi.    New York :  Marcel Dekker,  c1993 . xiii, 551 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100
  2. Speckle metrology 2003 : proceedings / editors Kay Gastinger, Ole Johan Lokberg, Svein Winther.    Bellingham :  SPIE-The International Society for Optical Engineering,  c2003 . ix, 390 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    PRF000100


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.