Vytisknout
1. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching
Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp. Berlin : Springer, c2006. xii, 292 s. Lok/dislok | Absenčně | Vypůjčené | Rezervované | Prezenčně | Nedostupné | Pouze k rezervaci |
---|---|---|---|---|---|---|
LF | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |